二极管作为电子电路中的基础元件，其性能参数直接影响电路稳定性。从普通整流到高频信号处理，不同应用场景对二极管的正向压降、反向漏电流等参数要求各异。因此，针对性选择测试仪器成为保障产品质量的关键。本文将系统介绍二极管测试仪器的常用类型及其适配场景。

　　一、万用表类测试仪器

　　1.1 基本原理与特性

　　数字万用表(DMM)内置二极管测试档位，通过向二极管施加固定电流(通常为 1mA)，测量正向导通电压 VF。此类仪器操作简便，价格亲民，支持通断蜂鸣报警功能，可快速判断二极管极性与开路 / 短路状态。

　　1.2 适用场景

　　基础维修场景：电子设备日常检修中，快速筛选故障二极管(如电源整流桥堆)。

　　教学与研发初期：学生实验或电路原型验证，对参数精度要求不高时使用。

　　1.3 局限性

　　仅能测试静态参数，无法模拟高频、大电流工况。

　　测量电流固定，无法反映二极管在实际工作电流下的性能(如肖特基二极管的正向压降随电流增大而变化)。

　　二、晶体管图示仪

　　2.1 技术原理

　　图示仪通过扫描电压 - 电流曲线(V-I 曲线)，直观呈现二极管的正向导通特性与反向击穿特性。仪器可调节扫描电压范围、阶梯电流参数，支持动态观察参数变化。

　　2.2 典型应用

　　参数全面评估：精确测量二极管的 VF、反向漏电流 IR、反向击穿电压 VBR。

　　器件选型验证：对比不同厂商二极管的曲线差异，辅助选型决策。

　　2.3 应用案例

　　在功率二极管生产检测中，图示仪可批量扫描样品曲线，剔除正向压降超标的器件，确保产品一致性。

　　三、半导体参数分析仪

　　3.1 核心功能

　　半导体参数分析仪(如 Keysight B1500 系列)集成高精度源表模块，可施加宽范围电压(0.01V~1000V)与电流(1pA~1A)，支持脉冲测试、电容 - 电压(C-V)测试等高级功能。

　　3.2 专业应用场景

　　科研与器件研发：测试新型半导体材料二极管(如碳化硅 SiC 二极管)的高温特性、高频特性。

　　失效分析：通过微探针测试，定位芯片级二极管的局部漏电点。

　　3.3 技术优势

　　皮安级电流测量精度，满足低漏电二极管(如光电二极管)测试需求。

　　可编程测试序列，适配复杂测试流程(如温度循环下的参数监测)。

　　四、自动测试系统(ATE)

　　4.1 系统架构

　　ATE 由测试主机、参数测量模块、机械手 / 探针台组成，通过软件编程实现自动化测试。常见于半导体封装生产线，可并行测试数百颗二极管。

　　4.2 工业级应用

　　大规模生产质检：每分钟完成 200 + 颗二极管的 VF、IR、VBR 全参数检测。

　　分选与分级：根据测试结果自动分拣合格品、降级品与废品。

　　4.3 关键指标

　　测试节拍：≤3 秒 / 颗(依赖硬件性能与算法优化)。

　　数据追溯：自动生成测试报告，支持批次质量追溯。

　　五、便携式专用测试仪

　　5.1 产品特点

　　便携式仪器(如手持二极管测试仪)集成低功耗设计，具备单键快速测试、背光显示等功能，适合现场作业。部分型号支持红外测温，同步监测二极管工作温度。

　　5.2 典型场景

　　电力系统巡检：在变电站、配电柜中快速检测续流二极管状态。

　　户外设备维护：光伏阵列中二极管的现场故障排查。

　　六、选型建议与场景匹配表

　　结语

　　二极管测试仪器的选型需兼顾参数精度、测试效率与成本。从实验室研发到产线批量检测，不同场景对仪器的功能需求差异显著。未来，随着 SiC、GaN 等宽禁带半导体器件普及，对高频、高压测试能力的需求将推动仪器技术持续迭代。使用者可依据实际需求参考本文分析，选择适配的测试方案。